一种连续锁模近场光腔衰荡光谱分析装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种连续锁模近场光腔衰荡光谱分析装置。现有技术采用线型精细腔,光机定位要求高、结构复杂,不能对薄膜、界面等进行测试。本实用新型将相干光源出射光束分成具有不同偏振特性的两束,一束偏振光经过光学调制与控制构成测量光束,另一束经过频率调控形成锁模光束,两束光经过偏振分光镜统一路径后,入射单一光学元件构成的环形高精细度腔,出射光束经过偏振分光镜分光,锁模光束被探测后形成反馈信号控制移动部件,带动光学行波高精细度腔产生位移,入射光束与高精细度腔在测量时保持连续锁模。本实用新型精细腔构成简单,只有一个光学元件,结构简单稳定,对机械定位要求低,并且光谱分析测量对象可为薄膜、界面、纳米物质、流体。

基本信息
专利标题 :
一种连续锁模近场光腔衰荡光谱分析装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820087750.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-05-27
授权号 :
CN201210139Y
授权日 :
2009-03-18
发明人 :
高秀敏王健
申请人 :
杭州电子科技大学
申请人地址 :
310018浙江省杭州市江干区下沙高教园区2号大街
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
杜 军
优先权 :
CN200820087750.7
主分类号 :
G01N21/25
IPC分类号 :
G01N21/25  G01N21/39  G01J3/28  G01J3/42  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2013-07-17 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101491522099
IPC(主分类) : G01N 21/25
专利号 : ZL2008200877507
申请日 : 20080527
授权公告日 : 20090318
终止日期 : 20120527
2009-03-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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