光纤谐振器中表面等离子体谐振的光腔衰荡检测法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种与相干光源结合使用以检测环境变化的装置和方法。该装置包括：光腔，其包括输入耦合端口，和光纤部分；光耦合至该光腔的检测器，用于监测该光腔中的辐射；以及电耦合至该检测器的处理器，用于基于由该检测器监测的光腔中的辐射的衰减率分析光腔的检测部分附近的环境变化。该光腔的光纤部分包括检测部分，该检测部分涂覆有能支撑表面等离子体以提供腔损耗的导电层。该表面等离子体响应该检测部分附近的环境变化。该相干光源光学地耦合至光腔的输入耦合端口以提供光腔中的辐射。
基本信息
专利标题 ：
光纤谐振器中表面等离子体谐振的光腔衰荡检测法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101128730A
申请号 ：
CN200580048610.8
公开（公告）日 ：
2008-02-20
申请日 ：
2005-12-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
P·B·塔尔萨
申请人 ：
普林斯顿大学理事会
申请人地址 ：
美国新泽西
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
覃鸣燕
优先权 ：
CN200580048610.8
主分类号 ：
G01N21/55
IPC分类号 ：
G01N21/55
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
法律状态
2010-03-24 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2008-04-16 ：
实质审查的生效
2008-02-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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