一种基于窄线宽连续激光和随机耦合的光腔衰荡信号衰荡时间获...
公开
摘要
本发明涉及一种基于窄线宽连续激光和随机耦合的光腔衰荡信号衰荡时间获取方法，将窄线宽连续激光束直接入射进入光学谐振腔，记录随机耦合产生的光腔衰荡信号，对记录的光腔衰荡信号采用双指数函数拟合，从而消除随机耦合过程时间特性的不确定性对衰荡时间获取的影响，通过多次测量结果统计平均获得衰荡时间的准确值。本方法与传统的采用调制光学谐振腔腔长实现共振耦合和采用声光调制器快速关断激光束的窄线宽连续激光光腔衰荡方法相比，具有构型简单、调节方便、成本低等优点，可用于基于光腔衰荡的高反/高透光学元件反射率/透过率/光学损耗测量和基于光腔衰荡光谱的痕量气体检测中。
基本信息
专利标题 ：
一种基于窄线宽连续激光和随机耦合的光腔衰荡信号衰荡时间获取方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295325A
申请号 ：
CN202111305411.8
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-11-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李斌成王静杨巨川
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202111305411.8
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01N21/39
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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