一种同步反射分布光度计

避免重复授权放弃专利权

摘要

本实用新型公开了一种同步反射分布光度计。包括两个独立基座，被测光源与第一基座连接并且绕垂直轴转动，在第一基座上设置绕被测光源旋转的第一光学反射镜。第二基座上设置与第一光学反射镜同步同轴旋转的第二光学反射镜，第一光学探测器的光轴与转动中心线同轴，在测量中固定不动。第一光学反射镜把被测光源发出的光束反射到远处的第二光学反射镜，经第二光学反射镜反射后光束正入射到第一光学探测器。本实用新型的同步反射分布光度计除了减小暗室空间，使光源高度稳定外，由于光束入射角较小，由第二光学反射镜带来偏振误差明显减少，降低了现有同步反射分布光度计中由偏振带来的测量误差；同时第一光学探测器背对被测光源设置，方便限制杂散光干扰；通过移动第一光学探测器的位置或选用不同的光学探测器，无需另行对准即可实现各种

基本信息

专利标题：

一种同步反射分布光度计

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820087956.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-05-26

授权号：

CN201206998Y

授权日：

2009-03-11

发明人：

潘建根

申请人：

杭州远方光电信息有限公司

申请人地址：

310053浙江省杭州市滨江区滨康路669号

代理机构：

杭州杭诚专利事务所有限公司

代理人：

林宝堂

优先权：

CN200820087956.X

主分类号：

G01J1/04

IPC分类号：

G01J1/04 G01M11/02

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01J

红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法

G01J1/00

光度测定法，例如照相的曝光表

G01J1/02

零部件

G01J1/04

光学或机械部件

法律状态

2011-08-10 ：

避免重复授权放弃专利权

号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101121369795
IPC(主分类) : G01J 1/04
专利号 : ZL200820087956X
申请日 : 20080526
授权公告日 : 20090311
放弃生效日 : 20080526

2010-12-29 ：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101057023631
IPC(主分类) : G01J 1/04
专利号 : ZL200820087956X
变更事项 : 专利权人
变更前 : 杭州远方光电信息有限公司
变更后 : 杭州远方光电信息股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号
变更后 : 310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号

2009-03-11 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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