无损检测激光晶体掺杂浓度的装置
专利权的终止
摘要

本实用新型提供一种激光晶体掺杂浓度的检测装置,包括激发单元、信号采集单元、检测单元和计算单元;其中所述激发单元产生能够照射到所述激光晶体并激发其产生荧光的光;所述信号采集单元用于接收所述荧光并将其入射到所述检测单元;所述检测单元与计算单元相连,用于接收来自所述信号采集单元的荧光并测量激光晶体的荧光寿命和荧光光谱图,然后将该数据传送给计算单元;所述计算单元根据所接收到的数据计算所述激光晶体中激活离子的掺杂浓度。该装置结构简单、操作快捷,可广泛应用于检测多种激光晶体的掺杂浓度。

基本信息
专利标题 :
无损检测激光晶体掺杂浓度的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820109887.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-08-22
授权号 :
CN201273880Y
授权日 :
2009-07-15
发明人 :
张瑛毕勇贾中达
申请人 :
北京中视中科光电技术有限公司
申请人地址 :
100094北京市海淀区永丰高新技术产业基地永捷北路3号现代企业加速器B座5层
代理机构 :
北京泛华伟业知识产权代理有限公司
代理人 :
王 勇
优先权 :
CN200820109887.8
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2018-09-14 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20080822
授权公告日 : 20090715
2014-08-13 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101703769937
IPC(主分类) : G01N 21/64
专利号 : ZL2008201098878
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 北京中视中科光电技术有限公司
变更后权利人 : 北京市世嘉律师事务所
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 100094 北京市海淀区永丰高新技术产业基地永捷北路3号现代企业加速器B座5层
变更后权利人 : 100010 北京市东城区朝阳门北大街8号富华大厦D座14A
登记生效日 : 20140722
2009-07-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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