一种光中子-X射线违禁品检测系统
避免重复授权放弃专利权
摘要

本实用新型公开了一种光中子-X射线违禁品检测系统。该系统包括:X射线发生器,其产生X射线主束,X射线主束包括第一X射线束和第二X射线束,第一X射线束被引导穿过该被检物体;光中子转换靶,该光中子转换靶布置成接收所述第二X射线束,从而产生光中子,光中子被引导进入该被检物体,并与所述被检物体反应发出特征性γ射线;X射线探测装置,该X射线探测装置布置成接收穿过该被检物体后的所述第一X射线束,以便对该被检物体进行X射线成像检测;γ射线探测装置,该γ射线探测装置布置成接收所述特征性γ射线,以便根据所述特征性γ射线对该被检物体进行中子检测;其中,该系统同时对该被检物体进行X射线成像检测和中子检测。

基本信息
专利标题 :
一种光中子-X射线违禁品检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820125727.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-06-19
授权号 :
CN201247208Y
授权日 :
2009-05-27
发明人 :
康克军胡海峰杨袆罡陈志强苗齐田程建平李元景刘以农彭华李铁柱赵自然刘耀红吴万龙
申请人 :
清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请人地址 :
100084北京市海淀区清华大学
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
范晓斌
优先权 :
CN200820125727.2
主分类号 :
G01N23/08
IPC分类号 :
G01N23/08  G01N23/04  G01N23/222  G01V5/00  G21F1/00  
法律状态
2011-12-07 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101228107459
IPC(主分类) : G01N 23/08
专利号 : ZL2008201257272
申请日 : 20080619
授权公告日 : 20090527
放弃生效日 : 20080619
2009-05-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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