两段式自动化测试装置
专利权的终止
摘要

一种两段式自动化测试装置,包括由上往下依次分布的上针板、载板、下针板和底板,被测电路板置于所述载板上,所述下针板固定在所述底板上,所述上下针板可被一驱动压合机构驱动压合以对电路板进行第一段测试,还包括挂杆机构和锁销机构,所述挂杆机构包括垂直连接在所述上针板底端的直杆、可上下移动地套接在所述直杆中部的定距单元以及位于上针板与定距单元之间的弹簧,所述直杆的下部开设有锁孔,所述锁销机构固定在所述底板上,其前部的锁销可伸出插入所述锁孔内以对所述电路板进行第二段测试。该两段式自动化测试装置可同时对双面电路板的上下两面进行两段式的测试简化了电路板的测试程序,提高了使用的方便性。

基本信息
专利标题 :
两段式自动化测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820130592.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-08-06
授权号 :
CN201262642Y
授权日 :
2009-06-24
发明人 :
徐贵良
申请人 :
良瑞科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台北县
代理机构 :
隆天国际知识产权代理有限公司
代理人 :
郭晓东
优先权 :
CN200820130592.9
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R31/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2018-08-28 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20080806
授权公告日 : 20090624
终止日期 : 20170806
2009-06-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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