两段式测试治具

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种两段式测试治具，用以测试电子线路集成板，包括上下模、上下载板(10)、上下固定针板(21)、探针组件及定位系统，载板(10)用以保护待测板(50)和导正测试针点，探针组件包括探针(30)、针套(35)，由复位弹簧(40)确保每次测试完后探针(30)和载板(10)复位，治具还装设有上下活动针板(22)，多次测量时始终接触到测试针点的固定探针(31)通过其针套环固定在固定针板(21)上，在一些测试过程中会干扰的或不需测试的活动探针(32)通过其针套环固定在活动针板(22)上。本实用新型在使用中能按测量要求很方便地使会干扰或不须测试的探针脱离，能方便二次测量；在使用中探针不易偏移且有自动导正作用。

基本信息

专利标题：

两段式测试治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720040201.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-06-29

授权号：

CN201053973Y

授权日：

2008-04-30

发明人：

林建青

申请人：

昆山鸿汉电子有限公司

申请人地址：

215316江苏省昆山市玉山镇水秀路958号

代理机构：

苏州市新苏专利事务所有限公司

代理人：

许鸣石

优先权：

CN200720040201.X

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04