凸点量测装置

专利权的终止

摘要

本实用新型提供一种凸点量测装置，其包括：弓形支架；测点支杆，以可相对所述弓形支架活动的方式安装于所述弓形支架上，该测点支杆一端设置有支点；以及测量表，其与所述测点支杆的另一端相连。本实用新型结构简单，先对其进行调零，然后再将其放置在需检测的产品表面进行凸点检测，即可快速、可靠地对产品表面的凸点进行量测。

基本信息

专利标题：

凸点量测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820189332.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-08-29

授权号：

CN201277844Y

授权日：

2009-07-22

发明人：

刘志亮

申请人：

佛山市顺德区汉达精密电子科技有限公司

申请人地址：

528308广东省佛山市顺德区伦教街道熹涌伦兴中路一号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200820189332.9

主分类号：

G01B5/00

IPC分类号：

G01B5/00 G01B5/02 G01B5/28