基于红外图像辅助的可见光图像识别绝缘子污秽状态方法
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摘要

本发明涉及基于红外图像辅助的可见光图像识别绝缘子污秽状态方法,该方法包括以下步骤:采集绝缘子可见光图像,并进行绝缘子可见光图像处理及可见光特征值提取;采集绝缘子红外图像,并进行绝缘子红外图像处理及红外特征值提取;建立基于可见光图像的污秽等级识别数学模型和基于红外图像信息辅助的可见光图像污秽状态识别数学模型;根据环境相对湿度,选择相应的数学模型,求取绝缘子污秽等级。与现有技术相比,本发明具有去除环境光照的影响,考虑高相对湿度环境对可见光法的影响,数学模型简洁、通用等优点。

基本信息
专利标题 :
基于红外图像辅助的可见光图像识别绝缘子污秽状态方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN106680285A
申请号 :
CN201611027566.9
公开(公告)日 :
2017-05-17
申请日 :
2016-11-17
授权号 :
CN106680285B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
金立军田治仁艾建勇
申请人 :
同济大学
申请人地址 :
上海市杨浦区四平路1239号
代理机构 :
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 :
赵继明
优先权 :
CN201611027566.9
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-05 :
授权
2019-10-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20161117
2017-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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