检查设备

授权

摘要

一种用于检查颗粒材料流的检查设备，其包括：背景反射器(105)，邻近所述背景反射器(105)在使用中落下颗粒材料(F)流；以及照明单元(107)，用于照射所述背景反射器(105)上的细长视场(VF)，所述视场(VF)具有第一宽度(w1)；其中所述照明单元(107)包括固定的非扫描光源(115)，并且所述光源(115)由一个或多个光元件(120)形成，所述一个或多个光元件(120)限定第二宽度(w2)，所述第二宽度(w2)小于所述视场(VF)的所述第一宽度(w1)。

基本信息

专利标题：

检查设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN108603843A

申请号：

CN201780006898.5

公开（公告）日：

2018-09-28

申请日：

2017-01-23

授权号：

CN108603843B

授权日：

2022-05-03

发明人：

本尼迪克特·德弗霍特蒂莫西·科尔夫

申请人：

布勒索尔泰克斯有限公司

申请人地址：

英国西萨塞克斯郡

代理机构：

上海旭诚知识产权代理有限公司

代理人：

郑立

优先权：

CN201780006898.5

主分类号：

G01N21/85

IPC分类号：

G01N21/85