CT检查设备
授权
摘要
本实用新型公开一种CT检查设备，包括环形架体，其内侧形成用于对物体进行辐射检查的检查通道；放射源，设于所述环形架体上，可绕所述检查通道旋转；冷却循环设备，设于所述环形架体上，用于对所述放射源进行冷却，被配置为可与所述放射源同步地绕所述检查通道旋转，所述冷却循环设备包括与所述放射源连接的用于冷却液循环流动的管道、设于所述管道上且用于泵送所述冷却液的液压泵和用于对冷却液进行风冷的风冷装置。
基本信息
专利标题 ：
CT检查设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123378854.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
CN216747496U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
管伟强刘耀红贾玮阎忻水印炜
申请人 ：
同方威视技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
张鹏
优先权 ：
CN202123378854.8
主分类号 ：
G01N23/046
IPC分类号 ：
G01N23/046 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术，如计算机X光断层技术
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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