射线检查设备

授权

摘要

一种射线检查设备，包括：支撑框架，所述支撑框架内形成适用于检查目标的检查空间，所述支撑框架包括设置在所述检查空间两侧的两个直立框架；传输机构，包括安装在两个所述直立框架的下部之间的两个滚轮、以及环绕所述滚轮转动的输送带；以及承载机构，包括安装在两个所述直立框架的下部之间的支撑板，所述输送带的移动到上部的部分被滑动地支撑在所述支撑板上。传输机构设置在由支撑框架限定的内部空间的内部，传输机构与支撑框架形成一体式结构，并且传输机构不占用支撑框架的外部的空间，由此降低了整个射线检查设备的最大高度。

基本信息

专利标题：

射线检查设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021049892.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-09

授权号：

CN212402519U

授权日：

2021-01-26

发明人：

陈志强张丽黄清萍洪明志张立国周立峰

申请人：

同方威视技术股份有限公司

申请人地址：

北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

孙纪泉

优先权：

CN202021049892.1

主分类号：

B65G41/00

IPC分类号：

B65G41/00 B65G23/04 B65G23/44 G01V5/00