多通道射线检查设备
实质审查的生效
摘要

一种射线检查设备,包括:固定框架、多个检查通道、扫描装置和控制器。固定框架具有大致的圆环形。多个检查通道在所述固定框架的内部沿周向方向布置,每个检查通道适用于承载被检查的目标。扫描装置包括:辐射源2,安装在所述固定框架的中心,所述辐射源产生的辐射束能够辐射到每个检查通道;以及接收装置,以在所述周向方向上延伸的方式安装在所述固定框架上,并适用于接收穿过每个所述检查通道的所述辐射束。控制器适用于控制所述扫描装置对依次对每个检查通道内的目标进行扫描检查。多个检查通道可以共用一个扫描装置,在每个检查通道中都可以对被检查目标进行独立扫描检查。

基本信息
专利标题 :
多通道射线检查设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114527516A
申请号 :
CN202011306389.4
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2020-11-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张丽黄清萍洪明志
申请人 :
同方威视技术股份有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
孙纪泉
优先权 :
CN202011306389.4
主分类号 :
G01V5/00
IPC分类号 :
G01V5/00  G01N23/04  G01N23/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测,例如,利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 5/00
申请日 : 20201119
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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