支持SMD的红外热电堆传感器
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摘要

本发明涉及一种用于非接触式温度测量的支持SMD的红外热电堆传感器,作为热点或用于手势检测,在单片集成传感器芯片上具有至少一个微型化热电堆像素,所述传感器芯片容纳在气密密封的壳体中,该壳体由至少部分地非金属的壳体基板和壳体盖组成,气体或气体混合物容纳在壳体中。本发明的目的是设计一种微型化的可表面安装的红外热电堆传感器,其具有特别低的总高度,特别是在z方向上。这是借助于在与热电堆像素(29)相对的壳体盖(3)中引入孔径开口(26)来实现的,该孔径开口由聚焦透镜(4)闭合,该聚焦透镜将来自物体的辐射聚焦在壳体基板(1)上的热电堆像素(29)上,并且借助于在热电堆像素(29)旁集成在同一传感器芯片(2)上的信号处理单元(12),其中总壳体高度(1)和壳体盖(3)至多为3mm或小于2.5mm。

基本信息
专利标题 :
支持SMD的红外热电堆传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110121634A
申请号 :
CN201780081319.3
公开(公告)日 :
2019-08-13
申请日 :
2017-12-22
授权号 :
CN110121634B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
J·谢弗德克F·赫尔曼C·施密特W·莱内克M·西蒙K·施托克M·舒尔策
申请人 :
海曼传感器有限责任公司
申请人地址 :
德国德累斯顿
代理机构 :
深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
金辉
优先权 :
CN201780081319.3
主分类号 :
G01J5/04
IPC分类号 :
G01J5/04  G01J5/12  G01J5/02  G01J5/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/02
零部件
G01J5/04
壳体
法律状态
2022-04-08 :
授权
2019-10-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/04
申请日 : 20171222
2019-08-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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