一种全温OTA测试装置及方法
授权
摘要
本发明实施例公开了一种全温OTA测试装置及方法，其中，所述装置包括微波暗室和温箱，其中；所述微波暗室，用于对基站的天线进行OTA测试；所述温箱设置在所述微波暗室内，用于对所述基站的远端射频模块RRU进行全温测试。
基本信息
专利标题 ：
一种全温OTA测试装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110086550A
申请号 ：
CN201810060132.1
公开（公告）日 ：
2019-08-02
申请日 ：
2018-01-22
授权号 ：
CN110086550B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
付吉祥
申请人 ：
中国移动通信有限公司研究院;中国移动通信集团有限公司
申请人地址 ：
北京市西城区宣武门西大街32号
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
高洁
优先权 ：
CN201810060132.1
主分类号 ：
H04B17/00
IPC分类号 ：
H04B17/00 H04B17/391
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2019-08-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 17/00
申请日 : 20180122
申请日 : 20180122
2019-08-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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