本发明公开了一种快速全温光模块测试方法，包括以下步骤：S1、选取设定数量的光模块样本，建立温度校准函数关系式；S2、对待测试光模块进行高温校准和常温校准，并根据所述温度校准函数关系式进行低温校准；S3、对校准后的待测试光模块进行老化；S4、对老化后的待测试光模块进行全温验证。本发明在校准站位进行校准时，只需要对光模块进行常温校准和高温校准即可，低温时的产品参数则由温度校准函数关系式计算得到，其省略了光模块的低温校准测试操作，大幅减少了测试时间，提高了产能，从而达到降低生产成本，增强市场竞争力的结果。并且，通过验证站对光模块进行全温验证，其有效保证了光模块的性能和可靠性。