一种基于迁移学习的软件缺陷预测方法
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摘要
本发明公开了一种基于迁移学习的软件缺陷预测方法,该方法利用降维迁移学习的思想,综合考虑不同项目数据样本之间概率分布以及条件概率分布,在源项目和目标项目之间建立一个新的特征表示,在一个新的空间中最小化二者之间的差异,训练出一个新的分类器,进而实现迁移学习。算法首先采用了一种不同分布之间的距离度量方式,最大均方差异来量化源数据和目标数据之间的分布差异和条件分布差异,通过最小化这种度量来获得一个模型,通过这个模型映射过后的训练数据和测试数据几乎具有相同的概率分布和条件概率分布;然后就可以采用传统的机器学习算法对测试数据进行分类。
基本信息
专利标题 :
一种基于迁移学习的软件缺陷预测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108446711A
申请号 :
CN201810101265.9
公开(公告)日 :
2018-08-24
申请日 :
2018-02-01
授权号 :
CN108446711B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
张洋洋荆晓远吴飞孙莹
申请人 :
南京邮电大学
申请人地址 :
江苏省南京市亚东新城区文苑路9号
代理机构 :
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人 :
朱桢荣
优先权 :
CN201810101265.9
主分类号 :
G06K9/62
IPC分类号 :
G06K9/62 G06F11/36
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06K
数据识别;数据表示;记录载体;记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形,例如,指纹的方法或装置
G06K9/62
应用电子设备进行识别的方法或装置
法律状态
2022-04-22 :
授权
2018-09-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06K 9/62
申请日 : 20180201
申请日 : 20180201
2018-08-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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