一种基于特征提取和Stacking集成学习的软件缺陷预测...
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摘要

本发明公开了一种基于特征提取和Stacking集成学习的软件缺陷预测方法,包括:(1)利用核主成分分析对原始数据集进行特征提取,得到降维后的缺陷数据集DS′;(2)利用本发明提出的协同过滤算法为新的软件缺陷数据推荐适用的抽样方法,使用推荐的抽样算法在缺陷数据集DS′上进行不平衡处理,得到不平衡处理后的缺陷数据集DS″;(3)使用K‑Means算法对缺陷数据集DS″进行聚类,对于偏离主流类别的异常值进行剔除,得到缺陷数据集DS″′;(4)构建基于Stacking集成学习的软件缺陷预测模型,为第一层的基学习器和第二层的元学习器选择合适的分类器,构建出性能良好的软件缺陷预测模型;(5)在处理后的缺陷数据集DS″′上使用集成后的模型与基模型和主流集成模型进行对比,以此验证本发明提出的集成预测模型的性能优劣。研究结果表明,本发明提出的KSSDP集成预测模型比基模型和主流集成模型的性能更好。

基本信息
专利标题 :
一种基于特征提取和Stacking集成学习的软件缺陷预测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113837266A
申请号 :
CN202111106611.0
公开(公告)日 :
2021-12-24
申请日 :
2021-09-22
授权号 :
CN113837266B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
崔梦天吴克奇李卫榜王琳姜玥罗洪
申请人 :
西南民族大学
申请人地址 :
四川省成都市武侯区一环路南四段16号
代理机构 :
成都华风专利事务所(普通合伙)
代理人 :
杜朗宇
优先权 :
CN202111106611.0
主分类号 :
G06K9/62
IPC分类号 :
G06K9/62  G06F11/36  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06K
数据识别;数据表示;记录载体;记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形,例如,指纹的方法或装置
G06K9/62
应用电子设备进行识别的方法或装置
法律状态
2022-05-20 :
授权
2022-01-11 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06K 9/62
申请日 : 20210922
2021-12-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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