基于类级别源代码相似度的软件缺陷预测方法
公开
摘要
本发明提供一种基于类级别源代码相似性的软件缺陷预测方法,包括如下步骤:S1、构建数据集;S2、构建源码节点集BAset;S3、构建量化源码节点集DTset;S4、构建相似度值集合BCset;S5、获取最优的类实例数方法GMmethod;S6、构建基于类级别源代码相似性的软件缺陷预测方法CL‑SCS。本发明提出细粒度级别的源项目选择方法,可为后续得数据训练提供更好的源项目,该方法能够有效提升软件缺陷预测效果。
基本信息
专利标题 :
基于类级别源代码相似度的软件缺陷预测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114564410A
申请号 :
CN202210277028.4
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2022-03-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
文万志朱宁波沈陈强张苏川陈励文程帆吴佳俊张瑞年王则林
申请人 :
南通大学
申请人地址 :
江苏省南通市崇川区啬园路9号
代理机构 :
南通一恒专利商标代理事务所(普通合伙)
代理人 :
梁金娟
优先权 :
CN202210277028.4
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载