一种软件缺陷预测数据处理方法、装置及存储介质

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摘要

本发明公开了一种软件缺陷预测数据处理方法，该方法通过对缺陷样本的各特征建立独立的特征分布模型，并采用随机变异的方式对部分特征进行替换，从而获得新的缺陷样本，不断补充新样本直至非缺陷样本和缺陷样本比例达到平衡，得到处理后的软件缺陷预测数据集，用于后续模型训练。本发明还提供了基于上述方法的软件缺陷预测数据处理装置及机器存储介质，解决了现有技术中普遍存在的缺陷样本数目少于非缺陷样本数目造成的缺陷样本识别能力不足问题，有效提高软件缺陷预测的精度。

基本信息

专利标题：

一种软件缺陷预测数据处理方法、装置及存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111782548A

申请号：

CN202010738033.1

公开（公告）日：

2020-10-16

申请日：

2020-07-28

授权号：

CN111782548B

授权日：

2022-04-05

发明人：

燕雪峰张雨青

申请人：

南京航空航天大学

申请人地址：

江苏省南京市秦淮区御道街29号

代理机构：

南京苏高专利商标事务所(普通合伙)

代理人：

柏尚春

优先权：

CN202010738033.1

主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F11/36