一种基于子空间混合抽样的软件缺陷数目预测方法
公开
摘要

本发明提供了一种基于子空间混合抽样的软件缺陷数目预测方法。该方法包括:基于历史缺陷数据集通过子空间混合抽样生成缺陷预测模型;对测试样本进行预处理;将预处理后的软件样本输入到所述缺陷预测模型,所述缺陷预测模型输出所述软件样本的缺陷数目。本发明通过构造多个特征子空间,实现了子模型的多样性,进而保证后续集成学习的性能。本发明实施例所提出的子空间混合抽样集成算法既避免了欠抽样方法导致的过多有价值正样本被丢弃的问题,又避免了过抽样方法因引入过多噪声数据而降低模型性能的问题。

基本信息
专利标题 :
一种基于子空间混合抽样的软件缺陷数目预测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114297054A
申请号 :
CN202111553410.5
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王诗涵景驰原童浩楠
申请人 :
北京交通大学
申请人地址 :
北京市海淀区西直门外上园村3号
代理机构 :
北京市商泰律师事务所
代理人 :
黄晓军
优先权 :
CN202111553410.5
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  G06K9/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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