电子装置失效测试装置及测试方法
授权
摘要
本发明提供一种电子装置失效测试装置，包括侦测装置，所述电子装置用于：控制该侦测装置对该电子装置所处环境的参数值进行侦测；获取该侦测装置侦测到的环境参数值；确定该环境参数值是否超出预设范围；若是，则对该电子装置的内部元件及运行情况进行测试，并取得该电子装置的测试数据；及将该电子装置的测试数据和该侦测装置侦测到的环境参数值与一失效数据库中的数据进行比对从而判断该电子装置的失效原因，其中，该失效数据库中包括导致电子装置失效的环境参数值、电子装置失效时的测试数据以及失效原因。本发明还提供一种测试方法。本发明能够自动分析电子装置失效原因且无需拆机。
基本信息
专利标题 ：
电子装置失效测试装置及测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110278322A
申请号 ：
CN201810208360.9
公开（公告）日 ：
2019-09-24
申请日 ：
2018-03-14
授权号 ：
CN110278322B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
刘承祥
申请人 ：
富泰华工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋（I段）
代理机构 ：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘丽华
优先权 ：
CN201810208360.9
主分类号 ：
H04M1/24
IPC分类号 ：
H04M1/24 G01D21/02
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-12-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04M 1/24
申请日 : 20180314
申请日 : 20180314
2019-09-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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