测距仪系统及对其校准并确定到外部对象的距离的方法
授权
摘要
提供了测距仪系统以及校准测距仪系统并确定所述测距仪系统与外部对象之间的距离的方法。本公开内容的实施方式使用“芯片上”硅光子发射器如在热载流子注入条件下偏置的MOSFET或硅LED来生成用于校准测距仪的光信号。来自硅LED的光信号可以由测距仪的参考路径和接收路径中的光电检测器检测以生成校准相位偏移，可以从测距仪的相位偏移测量值中减去该校准相位偏移以校正由于例如环境、工艺变化、老化等造成的部件不匹配引起的相位偏移测量。
基本信息
专利标题 ：
测距仪系统及对其校准并确定到外部对象的距离的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108732578A
申请号 ：
CN201810210330.1
公开（公告）日 ：
2018-11-02
申请日 ：
2018-03-14
授权号 ：
CN108732578B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
查尔斯·朱
申请人 ：
查尔斯·朱
申请人地址 ：
美国加州库比蒂诺市斯奎尔伍德路7570号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
王宝筠
优先权 ：
CN201810210330.1
主分类号 ：
G01S17/08
IPC分类号 ：
G01S17/08 G01S7/497
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2018-11-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 17/08
申请日 : 20180314
申请日 : 20180314
2018-11-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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