一种弯折测试治具
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摘要

本发明公开了一种弯折测试治具。该弯折测试治具包括固定基板,固定设置于一固定机构上,固定基板包括第一载物面,其中待测产品包括所述第一非弯折部、第二非弯折部以及连接第一非弯折部和第二非弯折部的弯折部;旋转基板,可活动地设置于一限位机构上,旋转基板包括第二载物面;限位机构,用于限定旋转基板的旋转轨迹,以使旋转基板按旋转轨迹旋转时,仅弯折待测产品的弯折部。本发明实施例提供的弯折测试治具,通过限位机构限定旋转基板沿固定的旋转轨迹旋转,通过固定基板和旋转基板之间的间距限定出待测产品的弯折部的长度,在测试待测产品的弯折性能时,仅对待测产品的弯折部进行弯折,保证了弯折测试数据的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种弯折测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110631891A
申请号 :
CN201810644631.5
公开(公告)日 :
2019-12-31
申请日 :
2018-06-21
授权号 :
CN110631891B
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
刘伟
申请人 :
上海和辉光电有限公司
申请人地址 :
上海市金山区九工路1568号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
孟金喆
优先权 :
CN201810644631.5
主分类号 :
G01N3/02
IPC分类号 :
G01N3/02  G01N3/04  G01N3/20  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/02
零部件
法律状态
2022-06-10 :
授权
2022-05-17 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01N 3/02
变更事项 : 申请人
变更前 : 上海和辉光电有限公司
变更后 : 上海和辉光电股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 201506 上海市金山区九工路1568号
变更后 : 201506 上海市金山区九工路1568号
2020-01-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 3/02
申请日 : 20180621
2019-12-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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