一种基于谐振腔和FRET效应的激光检测系统及方法
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摘要

一种基于谐振腔和FRET效应的激光检测系统及方法,包括激光源模块、谐振腔模块、光学准直模块和信号接收模块,激光源模块用于提供激光源,光学准直模块用于将激光源耦合到谐振腔模块以及将谐振腔模块产生的信号光采集到光谱仪中;谐振腔模块用于产生光谐振和FRET效应,包括能够产生光谐振的微腔,微腔周围能够产生FRET效应的荧光受体物质;信号接收模块用于接收、分析、存储信号光。激光源模块产生激光,经过光学准直模块将激光源耦合到谐振腔模块,激发微腔产生谐振,进而激发微腔周围的荧光受体物质产生FRET效应,产生信号光;若获得的信号光与标准信号光存在特异性差别,则表明待测分子存在,实现了谐振腔外微量物质的检测。

基本信息
专利标题 :
一种基于谐振腔和FRET效应的激光检测系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109507162A
申请号 :
CN201811515899.5
公开(公告)日 :
2019-03-22
申请日 :
2018-12-11
授权号 :
CN109507162B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
王秀红乔鹏飞王璞王亚平
申请人 :
北京工业大学
申请人地址 :
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 :
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 :
吴荫芳
优先权 :
CN201811515899.5
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-06-07 :
授权
2019-04-16 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20181211
2019-03-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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