用于对样品进行显微检查的显微镜和方法
授权
摘要
本发明涉及一种用于利用显微镜对样品进行显微检查的方法，显微镜包括物镜和图像传感器，图像传感器用于转换由物镜成像到图像传感器上的图像。显微镜的视场能通过选择图像传感器的区段来改变。在方法的步骤中，利用显微镜拍摄样品的至少一个部分区域的初始图像(01)，为此在显微镜上选择第一视场。分析初始图像(01)，以便获知至少两个有区别的对部分区域成像的视场，其中，通过对部分区域成像的视场中的每个视场对初始图像(01)的部分区域成像。针对所获知的对部分区域成像的视场中的每个视场，拍摄样品的部分区域的图像(03)。本发明还涉及一种用于对样品进行显微检查的显微镜。
基本信息
专利标题 ：
用于对样品进行显微检查的显微镜和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110235045A
申请号 ：
CN201880008086.9
公开（公告）日 ：
2019-09-13
申请日 ：
2018-01-12
授权号 ：
CN110235045B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
亚历山大·盖杜克多米尼克·施特尔约翰尼斯·温特罗沃尔克·普施
申请人 ：
卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请人地址 ：
德国耶拿
代理机构 ：
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
杨靖
优先权 ：
CN201880008086.9
主分类号 ：
G02B21/36
IPC分类号 ：
G02B21/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
G02B21/36
照相或投影用的布置
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2019-10-15 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 21/36
申请日 : 20180112
申请日 : 20180112
2019-09-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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