针对用于显微镜的探测光的光学组件、用于显微镜检查的方法和...
授权
摘要
本发明涉及一种用于显微镜的、尤其是共焦扫描显微镜的探测光的光学组件，其具有用于被待测量的探测光穿过的射入平面(10)和布置在射入平面下游的用于将探测光(11)引导到探测平面(67)中的探测光路，其中，探测光路具有至少一个第一射束路径(1)，其具有第一光学射束引导器件，尤其是第一透镜和/或反射镜(20、30、34、36、58、60、66)，用于将探测光传导到探测平面中。光学组件在第一射束路径中具有至少一个用于对待测量的探测光在空间上进行光谱分裂的色散装置(26)和用于对在空间上进行了光谱分裂的探测光进行操纵的操纵装置(49)。第一光学射束引导器件与色散装置和操纵装置一起被布置并设立成用于产生射入平面到探测平面中的光谱分离并衍射受限的成像。优选地，光学组件具有第二射束路径(2)，其具有光学射束引导器件和用于选出第一射束路径(1)或第二射束
基本信息
专利标题 ：
针对用于显微镜的探测光的光学组件、用于显微镜检查的方法和显微镜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110023811A
申请号 ：
CN201780063949.8
公开（公告）日 ：
2019-07-16
申请日 ：
2017-10-16
授权号 ：
CN110023811B
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
蒂莫·安胡特马蒂亚斯·瓦尔德丹尼尔·施韦特
申请人 ：
卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请人地址 ：
德国耶拿
代理机构 ：
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
杨靖
优先权 ：
CN201780063949.8
主分类号 ：
G02B21/00
IPC分类号 ：
G02B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
法律状态
2022-05-27 ：
授权
2019-11-08 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 21/00
申请日 : 20171016
申请日 : 20171016
2019-07-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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