一种用于材料检查的单光子探测装置
授权
摘要
本实用新型涉及单光子探测器技术领域，且公开了一种用于材料检查的单光子探测装置，包括单光子探测器、散热壳和底座；所述散热壳的内侧贴敷由导热硅胶，且散热壳的内侧通过导热硅胶贴敷在单光子探测器的外壳上，所述底座可拆卸安装在单光子探测器的外壳上。该用于材料检查的单光子探测装置，利用导热硅胶作为填充，使得单光子探测器可直接将热量通过导热硅胶传导到散热壳上，增大单光子探测器热传导面积，使得单光子探测器快速散热，配合底座与单光子探测器连接，从而固定底座对单光子探测器进行安装。
基本信息
专利标题 ：
一种用于材料检查的单光子探测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123107747.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
CN216246842U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
杨作运梁进森
申请人 ：
苏州康冠光电科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市常熟高新技术产业开发区东南大道788号1幢
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202123107747.1
主分类号 ：
G01J11/00
IPC分类号 ：
G01J11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J11/00
测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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