组件处理与组件检查
公开
摘要

一种用于检查具有至少一个顶面、多个待检查侧面和/或这些侧面的边缘的多个组件的装置,该装置具有至少一个布置在翻转装置上的每种情况下用于这些组件中的一个的拾取工具,拾取工具被设计及配置为,在相应组件的顶面上拾取该组件,翻转装置被设计及配置为,用拾取工具将组件在翻转平面内沿运输路径围绕翻转轴旋转,并且在此过程中将处于拾取工具上的与翻转路径或翻转平面成角度地对准的组件输送至检查位置,以及在检查位置上,作为光学组件检查装置的第一及第二成像装置如此地互成角度地布置,使得处于检查位置上的组件的第一侧面或边缘用第一成像装置检查,处于检查位置上的组件的邻接第一侧面的第二侧面或边缘用第二成像装置检查。

基本信息
专利标题 :
组件处理与组件检查
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114585911A
申请号 :
CN202080073603.8
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2020-09-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
斯蒂芬·菲格尔夏拉海·拉克哈丹道
申请人 :
米尔鲍尔有限两合公司
申请人地址 :
德国罗丁约瑟夫米尔鲍尔广场
代理机构 :
北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
韩登营
优先权 :
CN202080073603.8
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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