检查系统、判定处理装置以及检查方法
公开
摘要
本发明在配管或配管构件的焊接部的缺陷的非破坏检查中，通过减轻作业者的负担从而提高放射线透过试验的作业能率，并且提高检查精度。使放射线透过检查对象的配管的焊接部而获取拍摄数据。而且，基于由所述拍摄数据所得的所述放射线的透过强度的分布，进行使判定数据与表示所述放射线的透过强度的分布的图像数据对应的处理，所述判定数据表示判定所述检查对象的配管的焊接部的缺陷的结果。因此，可使用拍摄数据获得图像数据及与图像数据对应的判定数据，可减轻作业者的负担。
基本信息
专利标题 ：
检查系统、判定处理装置以及检查方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114270181A
申请号 ：
CN202080058738.7
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2020-07-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
佐野照晃繁富公范大槻繁夫田中信贵
申请人 ：
日挥环球株式会社
申请人地址 ：
日本神奈川县横滨市西区港未来二丁目3番1号
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
李敏灵
优先权 ：
CN202080058738.7
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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