用于物体的显微成像的显微镜和方法
授权
摘要
本发明涉及一种用于对物体(12)成像的方法和显微镜(10)，所述显微镜包括：透镜组件(14)，所述透镜组件限定光学轴线和与其垂直的焦平面；和校正光学器件(32)，所述校正光学器件是可调节的以调节至一深度位置，并且所述校正光学器件校正在所述透镜组件(14)上的球面像差，所述球面像差在所述焦平面的某一深度位置处在所述物体(12)的成像期间发生。所述方法包括以下步骤：确定来自所述物体(12)的第一横向区域(40)和第二横向区域(42)的辐射的相位差；使用所述相位差与由此引起的球面像差的修改之间的先前已知连接，以便确定所述校正光学器件(32)的调节值，使得当对所述第二区域(42)成像时减小所述球面像差。
基本信息
专利标题 ：
用于物体的显微成像的显微镜和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110476102A
申请号 ：
CN201880019526.0
公开（公告）日 ：
2019-11-19
申请日 ：
2018-03-14
授权号 ：
CN110476102B
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
迈克尔·古格拉托马斯·奥特马库斯·施蒂克
申请人 ：
卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请人地址 ：
德国耶拿
代理机构 ：
北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
崔永华
优先权 ：
CN201880019526.0
主分类号 ：
G02B21/14
IPC分类号 ：
G02B21/14 G02B27/00 G02B21/02 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
G02B21/06
试样的照明装置
G02B21/08
聚光镜
G02B21/14
供相衬观察照明的
法律状态
2022-05-27 ：
授权
2019-12-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 21/14
申请日 : 20180314
申请日 : 20180314
2019-11-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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