执行x射线光谱分析的方法和x射线吸收光谱仪系统

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摘要

用于执行x射线吸收光谱分析的方法和x射线吸收光谱仪系统，该x射线吸收光谱仪系统与紧凑的实验室x射线源一起使用，从而以高空间分辨率和高光谱分辨率测量对象中感兴趣元素的x射线吸收。光谱仪系统包括：紧凑的高亮度实验室x射线源；使x射线聚焦通过要检查的对象的光学组件；以及包括单晶分析仪(在某些实施例中还包括镶嵌晶体)的光谱仪，用于将透射射束分散到空间分辨x射线检测器上。高亮度/高通量x射线源可以具有在0到105mrad之间的出射角，并且耦接到光学组件，该光学组件收集高通量x射线并使其聚焦到小于500微米的点上，从而得到高通量密度。光学组件的涂层还可以充当“低通”过滤器，从而允许一次观察到预定带宽的x射线，同时排除高次谐波。

基本信息

专利标题：

执行x射线光谱分析的方法和x射线吸收光谱仪系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110621986A

申请号：

CN201880031536.6

公开（公告）日：

2019-12-27

申请日：

2018-03-21

授权号：

CN110621986B

授权日：

2022-05-17

发明人：

云文兵西尔维娅·贾·云·路易斯雅诺什·科瑞斯里瓦特桑·塞沙德里艾伦·弗朗西斯·里昂本杰明·唐纳德·斯特普

申请人：

斯格瑞公司

申请人地址：

美国加利福尼亚州

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：

林强

优先权：

CN201880031536.6

主分类号：

G01N23/085

IPC分类号：

G01N23/085 G21K1/06 H01J35/12 H01J9/14 H01J35/02 H01J35/10