一种能够快速更换吸收片的X射线荧光光谱仪
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摘要

一种能够快速更换吸收片的X射线荧光光谱仪,包括安装座、样品台、X射线管、摄像机构、吸收片、吸收片座和探测器,样品台、X射线管、摄像机构和吸收片座安装在安装座上,吸收片座上设置有放置口和放置腔,吸收片通过放置口放置在放置腔内,X射线管上设置有发射口,发射口、摄像机构和吸收片与样品台相对设置,吸收片座上还设置有第一射线通道,第一射线通道与放置腔相连通,吸收片遮盖第一射线通道的入口,探测器设置在第一射线通道的出口。利用本实用新型的X射线荧光光谱仪可以进行物质成分分析实验,还可以进行测试物质材料对X射线的“吸收系数”的实验,并便于快速更换吸收片,节约了时间,提高了工作效率。

基本信息
专利标题 :
一种能够快速更换吸收片的X射线荧光光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122808611.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-16
授权号 :
CN216747503U
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
范真
申请人 :
深圳市禾苗分析仪器有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福永街道福宁高新产业园公寓楼308
代理机构 :
深圳市辉泓专利代理有限公司
代理人 :
何子扬
优先权 :
CN202122808611.7
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-06-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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