用于测试被试设备的基于处理器的测量方法及利用其的测量装置
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摘要
本发明涉及用于测试具有多个端子的被试设备(DUT：device under test)的测量方法，具体而言，涉及用于测量诸如电子设备、半导体元件、电路模块、电路基板等装有电子电路的各种电子设备的功能及性能所需的手段，涉及一种为了与配备高价的各种硬件来运用的以往手段相比能够节省单价而处理器以软件方式支持测量的方法及利用其的装置。
基本信息
专利标题 ：
用于测试被试设备的基于处理器的测量方法及利用其的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110785669A
申请号 ：
CN201880041098.1
公开（公告）日 ：
2020-02-11
申请日 ：
2018-06-07
授权号 ：
CN110785669B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
金秉圭金秉润
申请人 ：
普适福了有限公司
申请人地址 ：
韩国首尔特别市
代理机构 ：
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭放
优先权 ：
CN201880041098.1
主分类号 ：
G01R31/319
IPC分类号 ：
G01R31/319
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/319
••••测试器硬件，即输出处理电路
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-03-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/319
申请日 : 20180607
申请日 : 20180607
2020-02-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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