一种超表面显微镜及其制备方法、光路测量系统
授权
摘要
本发明提供了一种超表面显微镜及其制备方法、光路测量系统，所述制备方法采用二氧化钛超表面制备由两个不同焦距、直径可小达100μm的超透镜组成的超表面显微镜，还提供了一种光路测量系统。与现有技术相比，本发明的超透镜不存在球差；结构简单，由2个简单的平面超透镜组成，不需要添加额外的透镜组；尺寸很小，直径可做到100μm，有利于集成；本发明的制备方法均采用常规试剂和仪器，各步骤易行，可操作性强；本发明的光路测量系统简单、快捷，可快速对超表面显微镜成品进行测量。
基本信息
专利标题 ：
一种超表面显微镜及其制备方法、光路测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110007451A
申请号 ：
CN201910277288.X
公开（公告）日 ：
2019-07-12
申请日 ：
2019-04-08
授权号 ：
CN110007451B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
肖淑敏余烈国宋清海
申请人 ：
哈尔滨工业大学（深圳）
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区桃源街道深圳大学城哈尔滨工业大学校区
代理机构 ：
深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黎健任
优先权 ：
CN201910277288.X
主分类号 ：
G02B21/00
IPC分类号 ：
G02B21/00 C23C14/08 C23C14/18 C23C14/34 G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2019-08-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 21/00
申请日 : 20190408
申请日 : 20190408
2019-07-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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