用于磁共振成像中的线圈选择以减少相位卷褶伪影的方法和系统
授权
摘要
本发明题为“用于磁共振成像中的线圈选择以减少相位卷褶伪影的方法和系统”。提供了用于射频线圈阵列的各种方法和系统，该射频线圈阵列包括用于磁共振成像的多个线圈元件。在一个实施方案中，一种方法包括：根据接收元件组(REG)信息将所述多个线圈元件分组为REG；生成用于所述多个线圈元件的线圈元件灵敏度图；基于所述REG信息和所述线圈元件灵敏度图生成REG灵敏度图；基于所述REG灵敏度图，针对每个REG确定感兴趣区域(ROI)内的信号和所述ROI外侧的信号；基于每个REG的所述ROI内的信号和所述ROI外侧的信号选择一个或多个REG；并且在所述选择的REG中的线圈元件被激活并且不在任何选择REG中的线圈元件未被激活的情况下扫描所述ROI。以这种方式，可以减少相位卷褶伪影。
基本信息
专利标题 ：
用于磁共振成像中的线圈选择以减少相位卷褶伪影的方法和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110554339A
申请号 ：
CN201910464920.1
公开（公告）日 ：
2019-12-10
申请日 ：
2019-05-30
授权号 ：
CN110554339B
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
常少容
申请人 ：
通用电气公司
申请人地址 ：
美国纽约州
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
侯颖媖
优先权 ：
CN201910464920.1
主分类号 ：
G01R33/34
IPC分类号 ：
G01R33/34 G01R33/36 G01R33/565 A61B5/055 G06T11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/28
G01R33/44到G01R33/64各组中仪器的零部件
G01R33/32
激励或检测系统，例如用射频信号
G01R33/34
结构零部件，例如谐振器
法律状态
2022-04-12 ：
授权
2020-01-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/34
申请日 : 20190530
申请日 : 20190530
2019-12-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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