微裂纹检测方法、装置、系统以及样品制备方法
授权
摘要

本申请涉及一种微裂纹检测方法、装置、系统以及样品制备方法。所述微裂纹检测方法包括分析待测样品的二次离子,获取待测样品内各组成成份的质谱特征峰信息以及各组成成份对应的空间分布信息;在各空间分布信息中提取与标准质谱特征峰信息相同的质谱特征峰信息对应的组成成份的空间分布信息,得到填充剂空间分布信息;标准质谱特征峰信息为填充剂内各成份的质谱特征峰信息;基于数据重构处理各填充剂空间分布信息,获取待测样品内的微裂纹的三维形貌图,能够通过二次离子分析微裂纹的空间分布得到完整的微裂纹的三维形貌图,通过三维形貌图可明确微裂纹的起源,并可准确获取微裂纹的延伸扩展路径,进而,实现准确表征微裂纹。

基本信息
专利标题 :
微裂纹检测方法、装置、系统以及样品制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110186993A
申请号 :
CN201910476251.X
公开(公告)日 :
2019-08-30
申请日 :
2019-06-03
授权号 :
CN110186993B
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
尧彬王晓锋赖灿雄恩云飞黄云路国光
申请人 :
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请人地址 :
广东省广州市天河区东莞庄路110号
代理机构 :
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
周玲
优先权 :
CN201910476251.X
主分类号 :
G01N27/62
IPC分类号 :
G01N27/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/62
通过测试气体的电离,例如气溶胶;通过测试放电,例如阴极发射
法律状态
2022-04-15 :
授权
2020-05-29 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01N 27/62
变更事项 : 申请人
变更前 : 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
变更后 : 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
变更事项 : 地址
变更前 : 510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号
变更后 : 511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
2019-09-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 27/62
申请日 : 20190603
2019-08-30 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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