基于FPGA与DSP架构的数字电路测试装置及方法
授权
摘要
本发明公开了一种基于FPGA与DSP架构的数字电路测试装置及方法，通过软件程序实现DSP芯片和FPGA芯片的主从控制关系，电路系统中的FPGA和DSP芯片中加载程序，能够测试具有FPGA+DSP架构及有多个外部设备的数字电路，并能够验证FPGA与DSP芯片之间的通信、控制功能是否正常，从而完全验证电路系统是否正常工作。本发明能够对具有FPGA+DSP架构及所有相关外部设备的电路进行功能测试，测试结果快速、可靠。
基本信息
专利标题 ：
基于FPGA与DSP架构的数字电路测试装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110196391A
申请号 ：
CN201910565651.8
公开（公告）日 ：
2019-09-03
申请日 ：
2019-06-27
授权号 ：
CN110196391B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
关帅曹彪李有池张君利
申请人 ：
中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区龙山路89号
代理机构 ：
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 ：
耿英
优先权 ：
CN201910565651.8
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317 G05B19/042
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2019-09-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/317
申请日 : 20190627
申请日 : 20190627
2019-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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