光栅尺传感器以及检测方法
授权
摘要

本申请实施例提供一种光栅尺传感器以及检测方法,光栅尺传感器具有:传感器本体和耐磨件,传感器本体形成有沟槽,沟槽具有底面和与该底面垂直并且对置配置的第一检出面和第二检出面,耐磨件覆盖沟槽的与底面对置的开口以及与底面相邻的开口的一部分,光栅尺传感器还具有:感应部,感应部设置于第一检出面和第二检出面中的至少一方,获取位于第一检出面和第二检出面之间的被检物的检测信号;以及信号处理部,信号处理部根据检测信号确定耐磨件的磨损状态。由此,能够准确地确定耐磨件的磨损状态,并且能够避免人为判断的主观性,减少定期巡检等人力消耗,从而进一步降低使用成本。

基本信息
专利标题 :
光栅尺传感器以及检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112179275A
申请号 :
CN201910584756.8
公开(公告)日 :
2021-01-05
申请日 :
2019-07-01
授权号 :
CN112179275B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
洪奇李国培陈宇禟张禹张耀
申请人 :
欧姆龙(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市自由贸易试验区金吉路789号
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
樊一槿
优先权 :
CN201910584756.8
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  G01B7/02  B66B5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-06-03 :
授权
2021-01-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20190701
2021-01-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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