一种高精度摄影测量目标的制备方法
授权
摘要
本发明涉及摄影测量技术领域,特别涉及一种高精度摄影测量目标的制备方法,该方法包括:在一球体上加工至少两个支撑平面得到测量目标的本体;加工至少两个反射单元,该反射单元包括反射镜和设置在反射镜上的识别标志,将反射单元安装在支撑平面上。通过本申请的方法制得测量目标具有很强的回光反射效果,识别标志作为背景,具有明显的对比度,使得制成的测量目标在低强度曝光的情况下即可获得高对比度的标志图像,适用于高精度摄影测量领域。摄影测量时相机在不同站位成像时,在较大范围内都可以摄影测量目标进行精确测量,获取任意两个反射单元的圆心,根据其圆心与本体的体心的位置关系即可求得本体的圆心在空间中的位置。
基本信息
专利标题 :
一种高精度摄影测量目标的制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110440760A
申请号 :
CN201910749901.3
公开(公告)日 :
2019-11-12
申请日 :
2019-08-14
授权号 :
CN110440760B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
何振强董岚李波王小龙门玲鸰罗涛王铜梁静柯志勇马娜卢尚韩圆颖闫路平张晓辉沈建新
申请人 :
散裂中子源科学中心
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖科技产业园区科学园生产力大厦
代理机构 :
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司
代理人 :
郭燕
优先权 :
CN201910749901.3
主分类号 :
G01C11/00
IPC分类号 :
G01C11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C11/00
摄影测量学或视频测量学,例如,立体摄影测量学;摄影测量术
法律状态
2022-05-20 :
授权
2019-12-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 11/00
申请日 : 20190814
申请日 : 20190814
2019-11-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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