一种基于摄影测量的孔轴线测量装置及方法
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摘要

本发明公开了一种基于摄影测量的孔轴线测量装置及方法,包括规格不同的第一辅助测量装置和第二辅助测量装置,所述第一辅助测量装置和第二辅助测量装置的下端均为与待测孔完全贴合的半球形结构,且上端均设置有反光标志点。将第一辅助测量装置置于孔口,辅助装置与孔口完整贴合,多次转动第一辅助测量装置,并通过摄影测量方法获得辅助装置上的标志点位置,进而获取第一辅助装置旋转中心O1;更换第二辅助测量装置,重复上述操作再次得到旋转中心O2,两个旋转中心连线即为孔轴线。本发明通过两种不同直径规格的半球以及摄影测量标志点捕捉孔轴线上的点,拟合得到孔轴线,具有较好的精确性和通用性。

基本信息
专利标题 :
一种基于摄影测量的孔轴线测量装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112729170A
申请号 :
CN202011376696.X
公开(公告)日 :
2021-04-30
申请日 :
2020-11-30
授权号 :
CN112729170B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
朱绪胜申皓刘蕾陈洪宇
申请人 :
成都飞机工业(集团)有限责任公司
申请人地址 :
四川省成都市青羊区黄田坝纬一路88号
代理机构 :
成都君合集专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
尹玉
优先权 :
CN202011376696.X
主分类号 :
G01B11/27
IPC分类号 :
G01B11/27  G01C11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/27
••用于检测轴线准直
法律状态
2022-04-08 :
授权
2021-05-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/27
申请日 : 20201130
2021-04-30 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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