一种回转窑轴线的测量方法和测量系统
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及一种运转中回转窑轴线的测量方法和测量系统，通过砧标建立垂直基准面、空间坐标系，确定各测量点的坐标及到筒体的距离，使用三个位移传感器获取简体位移的测量数据，送入微型计算机中进行处理，采用公式计算回转窑轴线的坐标参数，测量系统包括水准仪、经纬仪、测量尺、钢卷尺、砧标、变送器仪器、位移传感器和位置传感器、微型计算机及其配接的模数接口，本发明的优点是，测量数据准确，方法简单易行。便于掌握运用。
基本信息
专利标题 ：
一种回转窑轴线的测量方法和测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1055055A
申请号 ：
CN90101485.0
公开（公告）日 ：
1991-10-02
申请日 ：
1990-03-17
授权号 ：
CN1020303C
授权日 ：
1993-04-14
发明人 ：
张云
申请人 ：
武汉工业大学
申请人地址 ：
430071湖北省武汉市武昌珞狮路14号
代理机构 ：
湖北省专利事务所
代理人 ：
李双全
优先权 ：
CN90101485.0
主分类号 ：
G01B5/25
IPC分类号 ：
G01B5/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/25
••用于检测轴线准直
法律状态
2007-05-16 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-04-24 ：
其他有关事项
1997-05-07 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-04-14 ：
授权
1991-10-02 ：
公开
1991-04-17 ：
实质审查请求已生效的专利申请
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
