一种磁盘设备寿命预测方法及装置
授权
摘要
本发明提供一种磁盘设备寿命预测方法及装置，该方法包括：基于待测磁盘设备中的N个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到待测特征值；分别计算待测特征值分别与M个预设的训练样本值的权重，并构建权重矩阵；基于权重矩阵进行线性回归计算，得到回归系数；基于回归系数，确定待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态。在本发明中，通过确定待测特征值对应的回归系数，能够确定待测磁盘设备的寿命状态，从而提高存储系统的安全性及可靠性较低。
基本信息
专利标题 ：
一种磁盘设备寿命预测方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110515752A
申请号 ：
CN201910784887.0
公开（公告）日 ：
2019-11-29
申请日 ：
2019-08-23
授权号 ：
CN110515752B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
张振广苏楠李辉
申请人 ：
浪潮（北京）电子信息产业有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区上地信息路2号2-1号C栋1层
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
张建
优先权 ：
CN201910784887.0
主分类号 ：
G06F11/00
IPC分类号 ：
G06F11/00 G06F11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2019-12-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/00
申请日 : 20190823
申请日 : 20190823
2019-11-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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