磁盘失效预测方法、预测模型训练方法、电子设备
公开
摘要
本发明提供了一种磁盘失效预测方法、预测模型训练方法、电子设备，该磁盘失效预测方法包括：获取待预测磁盘的预测数据集，所述预测数据集包括预测样本IO的IO信息和与所述预测样本IO相对应的SMART信息，其中，所述预测数据集采集于所述待预测磁盘的缓存盘加速场景；将所述预测数据集输入至预先训练好的预测模型，得出所述待预测磁盘的预测结果。根据本发明实施例提供的方案，能够结合IO信息和SMART信息，对所有类型的磁盘进行磁盘失效预测，有效降低了数据丢失的风险。
基本信息
专利标题 ：
磁盘失效预测方法、预测模型训练方法、电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114595085A
申请号 ：
CN202011394121.0
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-12-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
宋顺
申请人 ：
中兴通讯股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
孙浩
优先权 ：
CN202011394121.0
主分类号 ：
G06F11/00
IPC分类号 ：
G06F11/00 G06F11/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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