一种陶瓦表面缺釉检测方法及系统
授权
摘要
本发明公开了一种陶瓦表面缺釉检测方法及系统，其通过获取待检测陶瓦的表面图像，利用颜色判别法对待检测陶瓦进行颜色分类；采用高斯滤波法对对待检测陶瓦的表面图像进行滤波，依据分类颜色对来滤波后的图像进行相应的图像增强；采用与分类颜色对应的二值化图像处理方法获取待检测陶瓦的二值化图像；对待检测陶瓦的二值化图像进行特征值提取，依据特征值进行待检测陶瓦的缺釉状态的检测，通过分类陶瓦的颜色进行不同的处理，提高陶瓦表面缺釉检测的准确度，同时，通过提取对应的二值化值可以简化图像检测的计算，提高陶瓦表面缺釉检测的速度。
基本信息
专利标题 ：
一种陶瓦表面缺釉检测方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110763682A
申请号 ：
CN201910888772.6
公开（公告）日 ：
2020-02-07
申请日 ：
2019-09-19
授权号 ：
CN110763682B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
朱加云郑胜涂远江曾曙光肖焱山王啸王亚飞
申请人 ：
湖北三江航天万峰科技发展有限公司
申请人地址 ：
湖北省孝感市6号信箱万峰公司
代理机构 ：
武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李佑宏
优先权 ：
CN201910888772.6
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G06T7/00 G06T7/11 G06T7/12 G06T5/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2020-03-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20190919
申请日 : 20190919
2020-02-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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