一种磁瓦表面缺陷检测系统和方法
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摘要

本发明涉及一种磁瓦表面缺陷检测系统和方法,涉及磁瓦表面缺陷检测领。该系统包括:图像采集装置和计算机系统;图像采集装置用于采集磁瓦表面图像,所述计算机系统对所述磁瓦表面图像进行可疑区判断和并将所述可疑区分割出来,得到可疑区图像,提取所述可疑区图像的几何特征、灰度特征和纹理特征,所述计算机系统将所述几何特征、所述灰度特征和所述纹理特征输入到预先训练完成的分类器中,获得磁瓦表面缺陷的检测结果,通过分类识别算法实现高精度分类识别磁瓦缺陷,并实现了自动化检测磁瓦缺陷,减少了人力成本、提高了效率和识别准确率。

基本信息
专利标题 :
一种磁瓦表面缺陷检测系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110599470A
申请号 :
CN201910817272.3
公开(公告)日 :
2019-12-20
申请日 :
2019-08-30
授权号 :
CN110599470B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
文喆皓张秦玮姚星辰雷成名孟江南
申请人 :
武汉科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市青山区和平大道947号武汉科技大学
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
厉洋洋
优先权 :
CN201910817272.3
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/11  G06T7/41  G06T5/20  G06K9/38  G06K9/62  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-08 :
授权
2020-01-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20190830
2019-12-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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