一种自动调整方向的磁瓦外观缺陷检测装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种自动调整方向的磁瓦外观缺陷检测装置,包括两条相互垂直的前检测带和后检测带,以及分别设置在所述前检测带和所述后检测带两侧的检测设备,在所述前检测带和所述后检测带接触处设置有侧推机构,所述侧推机构包括安装在所述后检测带与所述前检测带之间的移动平台,以及安装在所述移动平台一侧将所述前检测带上横向输送的磁瓦垂直推向所述后检测带上的气缸。本实施方式通过侧推机构可直接实现磁瓦四个面的缺陷检测,不需要重新排布磁瓦,也不需要设置调整检测带,即可节省检测时间提高检测效率,又可保持磁瓦的检测状态减少检测误差,且能够降低设备成本。
基本信息
专利标题 :
一种自动调整方向的磁瓦外观缺陷检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920845506.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-05
授权号 :
CN210322834U
授权日 :
2020-04-14
发明人 :
汤培欢
申请人 :
深圳至汉装备科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽街道中山园路1001号TCL国际E城G4栋A单元902室
代理机构 :
北京国坤专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
赵红霞
优先权 :
CN201920845506.0
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-04-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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