一种IGBT动态参数测试平台的杂散电容获取方法

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摘要

本发明公开了一种IGBT动态参数测试平台的杂散电容获取方法，通过分析提取IGBT动态参数测试平台所涉及的杂散电容；根据包含杂散电容测试电路的等效电路图，计算在IGBT的关断过程中杂散电容的电流分量；根据电流分量获取IGBT关断瞬态过程中实测电流与理想电流的差值；利用IGBT关断瞬态过程，获得实测电流与理想电流的差值与杂散电容、IGBT集射极电压变化率之间的关联关系；根据关联关系计算IGBT动态参数测试平台的杂散电容值。本发明基于IGBT器件的关断瞬态波形，利用瞬态电压变化率和电流变化量，通过实测的方法计算动态测试平台的杂散电容，为准确评估器件的动态性能，提供可靠的动态数据奠定基础。

基本信息

专利标题：

一种IGBT动态参数测试平台的杂散电容获取方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110824321A

申请号：

CN201911025441.6

公开（公告）日：

2020-02-21

申请日：

2019-10-25

授权号：

CN110824321B

授权日：

2022-04-05

发明人：

唐新灵张喆林仲康王亮李现兵张朋韩荣刚石浩

申请人：

全球能源互联网研究院有限公司;国网山东省电力公司电力科学研究院;国家电网有限公司

申请人地址：

北京市昌平区未来科技城滨河大道18号

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司

代理人：

张琳琳

优先权：

CN201911025441.6

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26