一种自动化测试逻辑设备接口的测试方法
授权
摘要
本发明公开一种自动化测试逻辑设备接口的测试方法,包括以基于关键字驱动的测试自动化框架为测试模板,建立测试分层结构;测试自动化框架根据所接收的测试执行参数匹配出测试用例;调取测试用例中用户关键字;根据用户关键字调用测试库层的测试库;若调用内置库,则根据用户关键字执行对应测试过程控制;若调用NVMe协议测试库的对应测试协议,根据对应测试协议调用测试机工具集中对应的测试工具执行测试操作并将测试结果传送至NVMe协议测试库;NVMe协议测试库解析测试结果,并根据用户关键字判断测试操作完成状态,且将其记录于日志,并将之反馈至测试自动化框架。本发明提高了测试效率,降低了测试成本。
基本信息
专利标题 :
一种自动化测试逻辑设备接口的测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110825647A
申请号 :
CN201911110550.8
公开(公告)日 :
2020-02-21
申请日 :
2019-11-14
授权号 :
CN110825647B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
彭向辉
申请人 :
广东华晟数据固态存储有限公司
申请人地址 :
广东省广州市南沙区进港大道80号805房(仅限办公用途)
代理机构 :
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 :
彭东梅
优先权 :
CN201911110550.8
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-05-13 :
授权
2020-03-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20191114
申请日 : 20191114
2020-02-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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